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冷熱沖擊試驗(yàn)箱電子產(chǎn)品試驗(yàn)規(guī)程及冷熱沖擊試驗(yàn)方法
冷熱沖擊試驗(yàn)箱分小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱及三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱,用于各類材料的高低溫沖擊,冷熱沖擊之熱脹冷縮測(cè)試。
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
本試驗(yàn)方法適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。
本試驗(yàn)方法不能用來考核僅由于高溫或低溫所引起的影響,對(duì)這種影響,應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn)方法。
影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)是:
溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值;
試驗(yàn)樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間;
低溫到高溫或高溫到低溫之間溫度變化的速率;
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東莞市科文試驗(yàn)設(shè)備有限公司是資深的冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家,精心為用戶研發(fā)制造的冷熱沖擊測(cè)試箱。
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