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詳細介紹
單通道紫外輻照計：我廠紫外輻照計執行企業標準Q/HDSDY0003－2014。UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
單通道紫外輻照計產品特點光譜：
| 項目 | 參數 | 備注 |
| 波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 用戶二選一 |
| 波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
| 輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 長波響應誤差 | <15% | |
| 相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標準） | |
| 余弦特性(方向性響應)誤差 | 10% | |
| 線性誤差 | ±1% | |
| 換檔誤差 | ±1% | |
| 短期不穩定性 | ±1%（開機30min后） | |
| 疲勞特性 | 衰減量<2% | |
| 零值誤差 | 滿量程的±1% | |
| 響應時間 | <1秒 | |
| 使用環境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH | |
| 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） | |
| 整機功耗 | ＜0.1VA |
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