CH-9J 光切法顯微鏡
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- 公司名稱 北京東立環宇電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 CH-9J
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/6/27 4:54:03
- 訪問次數 557
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CH-9J光切法顯微鏡
光切法顯微鏡以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國家標準GB1031-68所規定▽3-▽9級表面光潔度(表面粗糙度)對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切法特點是在不破壞表面的關況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。 | ||||||||||||
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