X 射線無損檢測設備簡介：

X-eye  NF120 
120kV  Nano-focus  Open  Tube  (400nm  Focal  Spot  Size) 
  Max.  300mm(Φ)  Table  Size 
  Wafer  Bump  Auto  X-ray  Inspection 
  3D  CT  -  Ultra  Fast  GPU  Reconstruction 
  void,  short,  bridge,  過焊，漏焊，自動檢出功能 
X-eye  6000AXI 
裝載130KV  Micro-focus  Closed  Tube 
    (5um  Focal  Spot  Size) 
  自動檢查FC  BGA 
  SW  Auto  Alignment  after  scanning  chip 
  檢測項目  :  De-wet,  Open,  Short,  Big  Ball 
    (3D  CT  Auto  Inspection) 
  檢出時間  :  2.5sec/ea 
  采用CT  Algorithm的Auto  Inspection  System 
X-eye  3000AH 
在線型X-Ray檢測設備 
  在線型Type,Tray  to  Tray,Magazine  to  Magazine 
  在線型Type,Tray  to  Tray,Magazine  to  Magazine 
  可與生產型設備聯動使用 
X 射線無損檢測設備適用 
PCB  封裝基板      小型Al、Mg、Zn  壓鑄件 
  BGA,CSP,Flip  Chip      塑料成型品 
  鋰電池      鋰電池 
  攝像機芯片、LCD芯片     
X-eye  9000  Series 
適用于角型鋰電池的自動檢測設備 
  采用Conveyoy  &  Index方式的在線型檢測設備 
  Job  Chang  Free 
  每分鐘高達120  cell的超高速檢測  (option  150ppm,180ppm) 
  配備24小時連續工作型X射線管 
X-eye  9000  Series2 
適用于高分子鋰電池和袋式電池的自動檢測設備 
  采用Conveyoy  &Pick&Place方式的在線型檢測設備 
  Job  Chang  Free 
  每分鐘高達100  cell的超高速檢測   
  配備24小時連續工作型X射線管