產(chǎn)品名稱：復(fù)合探針影像測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品型號(hào)：PZ-3020T
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：該儀器適用于以二坐標(biāo)測(cè)量為目的一切應(yīng)用領(lǐng)域。在機(jī)械、電子、鐘表、塑膠、模具等行業(yè)被廣泛使用。

儀器特點(diǎn)：

    復(fù)合探針影像測(cè)量?jī)x探針主要應(yīng)用于接觸式測(cè)量，影像與探針配合，互補(bǔ)滿足：空間高度、空間平面度、圓柱、圓錐、球、空間點(diǎn)、空間面等元素的測(cè)量。在高準(zhǔn)確度測(cè)量要求的汽車配件，模具零部測(cè)量的廣泛應(yīng)用。強(qiáng)大的VCAD-3D測(cè)量軟件，可實(shí)現(xiàn)所有二維平面測(cè)量功能，還具備拍地圖、產(chǎn)品輪廓掃描、專業(yè)SPC統(tǒng)計(jì)、手動(dòng)CNC、宏測(cè)量等功能。自帶“RENISHAW”測(cè)頭可實(shí)現(xiàn)部分三維尺寸接觸式測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量軟件介紹：

一、直接元素測(cè)量

    能測(cè)量12種元素（點(diǎn)、直接、圓、圓弧、橢圓、矩形、槽形、O形環(huán)、距離、角度、開運(yùn)線、閉云線）。

   測(cè)量方法多樣（自動(dòng)判別測(cè)量、采點(diǎn)測(cè)量，對(duì)比測(cè)量、公差對(duì)比測(cè)量，預(yù)置元素）。

   單點(diǎn)采集方法有多種：可鼠標(biāo)采點(diǎn)，十字線尋邊采點(diǎn)，放大采點(diǎn)，直線采點(diǎn)，鼠標(biāo)自動(dòng)捕捉。

二、間接測(cè)量

  兩元素之間的距離，兩邊夾角，多點(diǎn)構(gòu)成平面的平面度等，都可以通過軟件的構(gòu)造功能來(lái)實(shí)現(xiàn)。可以構(gòu)造的元素有：點(diǎn)，線，圓，弧，角度，平面等

三、影像測(cè)量高度差

  先在一個(gè)平面聚焦，軟件會(huì)記錄一個(gè)平面的高點(diǎn)數(shù)據(jù)，然后在另一個(gè)面聚集，軟件同樣會(huì)記錄下一個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)，軟件通過亮點(diǎn)的坐標(biāo)計(jì)算出兩個(gè)面的高度差，誤差小于0.005mm。

四、掃描功能

    可以把一個(gè)工件的輪廓掃描出來(lái)，然后轉(zhuǎn)到CAD進(jìn)行編輯，得出了設(shè)計(jì)圖紙，從而得到此工件的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)二維抄數(shù)。

五、地圖功能

    可以可一個(gè)工件完整的圖片拍出，在圖片進(jìn)行測(cè)量和標(biāo)注。圖片可以儲(chǔ)存，在調(diào)出進(jìn)行測(cè)量。

六、宏測(cè)量

    宏測(cè)量功能就是，將一連串相同的"構(gòu)造測(cè)量"，構(gòu)造命令關(guān)聯(lián)到一個(gè)按鈕上，點(diǎn)擊按鈕，即開始執(zhí)行宏測(cè)量功能，宏測(cè)量功能會(huì)自動(dòng)完成構(gòu)造動(dòng)作，減少用戶操作鼠標(biāo)次數(shù)，提高工作效率。

七、模板測(cè)量

    模板測(cè)量方法，也是目測(cè)方法的一種，主要是通過用戶眼睛目測(cè)，看是否合格，類似于投影儀上用到的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格板。

模板測(cè)量，主要有十字線模板，方格模板和同心圓模板。

十字線模板主要用來(lái)測(cè)量角度，方格模板主要是用來(lái)測(cè)量距離，通信團(tuán)模板主要用來(lái)測(cè)量圓。

八、預(yù)置元素

   軟件可以在機(jī)械坐標(biāo)系或者工作坐標(biāo)系隨便預(yù)置元素。

九、坐標(biāo)系建立

  可以隨便建立多個(gè)工件坐標(biāo)系，然后十字線隨坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)，因此不用去擺正元件。建立工件坐標(biāo)系的還一個(gè)好處就是保持跟圖紙一樣的基準(zhǔn)，這樣測(cè)量時(shí)可以得到X和Y向距離。

十、數(shù)據(jù)輸出

     測(cè)量完的數(shù)據(jù)不需要用手去抄寫，可以直接導(dǎo)出到Word、Excel、Tct、Cad然后打印。

十一、專業(yè)SPC統(tǒng)計(jì)分析 PROFESSIONALSPC STATISTICS ANALYSIS

    將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入SPC可以生成常用的管制圖，計(jì)理值管制圖有；平均數(shù)全劇管制圖，平均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差管制圖，中位數(shù)全距管制圖，個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖，直方圖，CPK推移圖，規(guī)格與制程標(biāo)準(zhǔn)管制圖，制程狀態(tài)分析圖，制程建議分析圖等。對(duì)生成的圖形可以利用八大判定規(guī)則進(jìn)行判定，為用戶對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)狀態(tài)及時(shí)了解，對(duì)于計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)還提供了單質(zhì)量監(jiān)控，及時(shí)了解產(chǎn)品狀態(tài)。