N-SIM超分辨率顯微鏡系統
- 公司名稱 尼康儀器(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/6/24 11:21:02
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,生物產業 |
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尼康新推出的N-SIM超分辨率顯微鏡系統可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用*的光學科技與制造技術,尼康享譽的Eclipse Ti研究級顯微鏡并配備的CFI Apo TIRF 100x油物鏡(NA 1.49),以此為基礎又結合了由UCSF(加州大學舊金山分校舊金山加州大學)所*的SIM技術就形成了全新的N-SIM系統.N-SIM在實現超級分辨率的同時還能以0.6秒/幀的時間分辨率實現了業內高的超分辨率圖像獲取速度。
N-SIM超分辨率顯微鏡系統結合UCSF*的“結構化照明顯微術(S tructured I llumination M icroscopy)”與尼康聲譽*的CFI Apo TIRF 100x oil物鏡(NA 1.49)N-SIM幾乎實現了傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。
人血管內皮細胞常規圖像與N-二SIM圖像比較
| 時間分辨率0.6秒/幀,業內快
N-SIM提供業內高的超分辨率圖像獲取速度,可實現0.6秒/幀2D SIM與1秒/幀3D SIM的時間分辨率,能有效進行活細胞成像。
線粒體紅色熒光探針標記線粒體的動態圖像(3D SIM,1秒/幀)
| 多種成像模式
| TIRF-SIM / 2D-SIM模式
新研發的TIRF-SIM照明技術以相較傳統TIRF顯微鏡更高的分辨率進行全內反射熒光觀察(TIRF),可獲得細胞膜附近更多的細節信息。
TIRF-SIM圖像傳統TIRF圖像
用YFP標記的B16黑色素瘤細胞的質膜
目的:CFI Apochromat TIRF 100x油(NA 1.49)
與RIKEN定量生物學中心細胞極性調節實驗室的合作拍攝:Yasushi Okada博士
| 3D-SIM模式
可以使用兩種3D模式。“Slice 3D-SIM”模式用于300nm Z軸分辨率單層超分辨率成像;“Stack 3D-SIM”模式用于厚樣品的序列多層超分辨率成像,具有相對前者更高的對比度。