蔡司工業ct METROTOM 光學斷層掃描儀采用計算機斷層掃描技術，在不損傷被測物體的情況下，以二維斷層攝影圖像或三維立體圖像的形式清晰、準確、直觀地顯示被測物體的內部結構、成分、材料和缺陷狀態，小可檢測缺陷為4.5微米。

1917年，奧地利數學家雷登(J. Radon)提出可通過從各方向的投影，并用數學方法計算出一幅二維或三維的重建圖像的理論。后來，考邁克于1967年完成了CT圖像重建相關的數學問題。亨斯菲爾德在英國EMI實驗中心進行了相關的計算機和重建技術的研究，重建出圖像。1971年誕生了*臺CT裝置。

　　CT是用X射線束對一定厚度的層面進行掃描，由探測器接受透過該層面的X射線，轉變為可見光后，由光電轉換變為電信號，再經模擬/數字轉換器轉為數字，輸入計算機處理。對于材料學領域，CT的成像原理是根據待測樣品內部不同相和成分的密度以及原子系數的不同，對X射線的吸收能力有強有弱從而造成成像的明暗差別，進行不同組分的分析。CT機結構包括X射線發生部分(高壓發生器、X線管、冷卻系統、準直器和楔形濾過器/板)、X線檢測部分(探測器，模數、數模轉換器)、機械運動部分(掃描機架、滑環)、計算機部分(主機及陣列處理器)及圖像顯示和存儲部分(監視器、存儲器)、工作站等。

常熟蔡司工業CT用一次掃描替換多次檢查
3D斷層攝影的一個重要優勢是它能夠取代多次復雜的單獨檢查。只需一次掃描

就可以檢查尺寸變化、不連續性、夾雜物和各種變形。幾秒鐘的循環時間是可

能的。還有一個額外的好處:結果會被蔡司VoluMax自動記錄下來

常熟蔡司工業CT蔡司ct斷層掃描儀檢測系統價格蔡司電腦軟件:從數據生成到過程監控
有了蔡司軟件，您可以高效地使用蔡司VoluMax，大限度地利用潛力。用戶界

面(ZEISS METROTOM操作系統)已被簡化，因此經過培訓的生產工人可以輕松、

安全地操作電腦系統。蔡司卡呂普索和蔡司計算機斷層顯像軟件可用于計算機

斷層數據的計量評估。可以使用ZEISS PiWeb質量數據系統進一步處理結果。

常熟蔡司工業CT：被測零件在放到工作臺上檢測之前,應先清洗去毛刺,防止在加工完成后零件表面殘留的冷卻液及加工殘留物影響測量機的測量精度及測尖使用壽命。

蔡司工業ct METROTOM 光學斷層掃描儀CT掃描即三維X射線掃描是以非破壞性X射線透視技術(簡稱CT)，將待測物體做360°自轉，通過單一軸面的射線穿透被測物體，根據被測物體各部分對射線的吸收與透射率不同，收集每個角度的穿透圖像，之后利用電腦運算重構出待測物體的實體圖像。