半導體表征測試服務
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- 公司名稱 西安千月電子科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2021/4/8 14:54:00
- 訪問次數 232
產品標簽
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| 應用領域 | 電子/電池 |
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測試服務:
高分辨透射電子顯微鏡（TEM） | JEM-3010 |
掃描電鏡 SEM | zeiss SIGMA 500 |
JEM-6700F | |
FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50 | |
S3400N | |
原子力顯微鏡(AFM) | Veece nanoscope Ⅲ A型 |
超聲波掃描（SAM） | Sonoscan D24 |
X射線衍射儀 XRD | XRD-7000 |
X'Pert Pro | |
日本理學Dmax-Rapid II | |
X射線光電子能譜儀(XPS） | AXIS ULTRA |
X射線檢測（X-Ray） | Phoenix MICROME|X 180T |
激光拉曼光譜儀 | Renishaw inVia Reflex |
傅立葉變換紅外光譜儀 | JOEL FTIR8400 |
穩態/瞬態熒光光譜儀 | FLS980 |
PL熒光光譜量測系統 | S301-058/059 |
PL映射系統PL MAPPING SYSTEM | Platom RPM blue |
靜電衰減測試儀 | JCI155v6 |
介電阻抗譜測試 | Novocontrol GmbH Concept 40 |
步入式現場環境模擬系統(恒溫恒濕環境) | X-73 |
高低溫沖擊試驗箱 | ETH80-40A |
電阻率測試儀 | NIPPON |
膜厚測試儀 | 橢偏儀 |
C-V測試 | 420S |
B1500 | |
探針臺 | EB12/PSM1000 |
EPS 150TRIAX | |
激光共聚焦 | OLS4100 |
綜合物性測量 | VersaLab |
ECV | EP-RE-0051 |
顆粒儀(自動光學檢查系統) | nSpec |
可見分光光度計 | CARY 5000 |
紫外可見分光光度計 | Lambda950 |
臺階儀 | 布魯克 Dektak XT |
A-Step膜厚段差測量儀 | Dektak150 |
EL量測試系統 | ELV1-MP3 |
金相顯微鏡 | BX51M |
HALL載流子濃度測試儀 | HL5500PC |
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