EDX600XRF光譜無損鍍層測試儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

國產XRF光譜無損XU-100鍍層測試儀性能優勢 

專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測

智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回收程序

國產XRF光譜無損XU-100鍍層測試儀技術指標 

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）

測量對象：固體、液體、粉末

分析檢出限可達：1ppm

分析含量一般為：1ppm到99.9%

多次測量重復性可達：0.1%

長期工作穩定性為：0.1%

外觀尺寸：430×380×355mm 

樣品腔尺寸：306×260×78mm 

重量：40kg

標準配置 

單樣品腔。

正比計數盒探測器

信號檢測電子電路

高低壓電源

X光管

應用領域

XRF光譜無損鍍層測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業