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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>其它半導體行業儀器設備>少子壽命測試儀>FlyTOF 飛行時間法載流子(電子空穴)遷移率測量儀

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FlyTOF 飛行時間法載流子(電子空穴)遷移率測量儀

具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


東譜科技 Oriental Spectra

東譜科技(品牌商標:Oriental Spectra)是一家專業的光電譜學類儀器及技術方案服務商,由國內外高校專業研究人員和行業工程師聯合發起。團隊核心成員均獲得光機電類碩博士學位,具有5-10年國際實驗室及企業研發經驗,擁有出色的光電子前沿科學研究及光機電產品開發的實力。自主研發的系列譜學檢測產品已廣泛應用于材料科學、生命科學、食品科學、環境科學、石油化工、地質學等領域。公司經過多年發展,目前擁有應用于光電子器件性能表征分析的光電產品線和前沿光譜技術(瞬態、超快)為核心的光譜產品線。具備為太陽能電池、光伏材料與器件、發光材料與器件、光催化、半導體材料等行業研究需要提供對應表征測試分析儀器及測試方案的能力。

光電產品線

□ 電致/光致發光量子效率測量儀HiYield

□ 電致發光測量儀NovaLum

□ 多通道發光/光伏器件穩定性測量儀EL-Lab

□ 太陽能電池光伏特性測量儀Sunshine

□ 瞬態光電流/光電壓/光電荷測量儀TranPVC

□ 多功能光電器件測量系統UltraTran

□ 飛行時間法遷移率測量儀FlyTOF

□ 多通道光伏器件穩定性測量儀PVLab

□ 光探測器綜合測量儀FineDet 990

□ 有機發光分子取向儀AngleLum

□ 半導體光源Pina/NanoQ/Mic/Tuna

□ 多功能樣品夾具HiSam

□ 氣體變溫快速換樣系統MagicK

光譜產品線

□ 光電一體化時間分辨光譜儀HiLight 990

□ 穩瞬態熒光光譜儀HiLight HS15

□ 熒光壽命測量儀HiLight T30

□ 瞬態電致發光光譜儀HiLight E60

□ 熒光光譜儀HiLight S20

□ 寬時域時間分辨單光子計數器HiTime

□ 納秒瞬態吸收(激光閃光光解)光譜儀NanoFly

□ 飛秒瞬態吸收光譜儀FemtoFly





光譜儀、光電檢測儀器、激光器、技術服務


產品關鍵詞:載流子遷移率測量系統/測試、電子遷移率測試、空穴遷移率測試、電子遷移率檢測、半導體測試儀、半導體參數分析儀、半導體器件參數測試儀、渡越時間測量、飛行時間測量儀、少數載流子壽命測試儀、載流子壽命測試儀器、遷移率壽命積測量、少數載流子測試、水平載流子測試儀、橫向載流子測試、載流子濃度測量儀、少子壽命測試儀


Key words: Carrier mobility Measurement system/Test, electron mobility test, Hole mobility Test, electron mobility test, semiconductor tester, semiconductor parameter analyzer, semiconductor device parameter tester, transit time measurement, time of Flight measurement, minority carrier life tester, carrier life testing instrument, Mobility lifetime product measurement, minority carrier test, Level Carrier tester, transverse carrier tester, carrier concentration tester, minority lifetime tester


產品簡介

早于2012年為行業提供搭建式系統,并于2019年全新推出的業內新款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測量商業化設備

FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平臺中的重要成員。該系統利用飛行時間法(time-of-flight,TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性,廣泛適用于各類半導體材料,如硅基半導體、第二代半導體、第三代寬帶隙半導體、有機半導體、鈣鈦礦半導體、量子點半導體、二維材料半導體、金屬-有機框架(MOF)、共價有機框架(COF)等。FlyTOF基于我司的MagicBox主機研制而成,配備便捷的上位機控制和數據測量軟件,可助力客戶進行快速、準確的測量。FlyTOF是東譜科技源頭研發產品,是業內新款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測試商業化設備。

遷移特性是半導體基礎的性質之一,是半導體在電子學和光電子學等領域進行應用的基礎。半導體的遷移率定義為單位電場下載流子的平均漂移速度。TOF遷移率測試方法直接由遷移率的定義發展而來。 相比于一些間接的遷移率測試方法,如空間電荷限制電流(SCLC)法等,TOF的方法被認為是接近“真實”遷移率的一種測量方法。通過TOF瞬態光電流信號的分析,可以得到電子遷移率、空穴遷移率等參數;用戶還可以利用這些數據,結合材料的物理模型進行分析,得到雜質濃度、缺陷、能帶混亂度、電荷跳躍距離等參數。

作為TOF遷移率測試方法商業化應用的先行,東譜科技已攜手客戶廣泛探索了FlyTOF在有機半導體、硅基半導體、鈣鈦礦半導體、二維材料、共價有機框架等領域的應用。東譜期待與您共同開拓FlyTOF更多的應用領域。




產品特點

□ 載流子遷移率測量值覆蓋10^-9~10^6 cm^2/(V.s)

□ 專業的信號調教,電磁兼容噪聲小

□ 行業優異的TOF測試功能

□ 軟件自動控制,測試快速便捷

□ 快速換樣裝置,惰性氣體氛圍測試

□ 可實現寬溫度范圍的變溫測試(選配)

□ 可通過可視化系統看到光斑照射情況

□ 可靈活耦合各種類型的激發光源




產品功能

飛行時間法瞬態光電流測量

□ 半導體材料電子遷移率測量

□ 半導體材料空穴遷移率測量

□ 載流子濃度測量

□ 載流子壽命測量

□ 可選變溫測量

□ 可選Lateral-TOF測試功能及附件

□ 可選配TOF二維掃描(mapping)功能及附件


功能說明:

標配TOF:縱向TOF;

Mapping功能:可以對TOF的信號進行二維平面的成像;

Lateral-TOF功能:可以以水平的方式對樣品的遷移率進行測試。




產品應用

□ 有機半導體□ 量子點半導體□ 元素半導體(Si、Ge等)□ 金屬-有機框架(MOF)□ 二維材料
□ 寬帶隙第三代半導體□ 鈣鈦礦材料□ 化合物半導體(InGaAs等)□ 共價有機框(COF)□ 其它半導體材料






規格型號

規格配置高性能版(E300)標配版(S300)經濟版(W300)
TOF標配功能
Mapping模塊可選可選×
Lateral-TOF可選可選×

* Lateral-TOF:

□ 包含顯微系統、探針系統、針對Lateral-TOF的光路及電子部件系統等,具有非標性質,詳情請與銷售專員聯系。

* 可選配置/部件:

□ 337nm 納秒氣體激光器;

□ 532nm納秒調Q固體激光器;

□ 355 nm納秒調Q固體激光器;

□ Nd:YAG激光器 1064 nm、532 nm、355 nm、266 nm;

□ 可調諧 OPO 激光器,波長范圍:210-2400 nm。




測試樣例











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