泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO

泰勒霍普森便攜式SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點：

快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

攜帶方便DUO可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

經外接口操作者可在距離被測工件1m處操作測量。

校準方便DUO具有自身校準標準，可預設標準值，通過LCD顯示出來。

測針保護不用時，設“park”位置可全面保護測針。

人體工程學設計

SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術指標：

Ra(算術平均偏差，以前稱為CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采樣長度內輪廓線以下的大高度)
Rp(采樣長度內輪廓線以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采樣長度內的大峰到谷)
偏度-關于平均線的輪廓對稱度的測量
Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)