日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/2/21 10:11:34
- 訪問次數 193
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家-成都藤田科技提供
Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學測量的雙引擎
核心對比與OPTM優勢:
技術差異化:
OPTM系列:基于分光干涉法,結合顯微光學系統,實現反射率分析,支持超薄膜(1nm)與復雜多層結構,技術解決透明基板干擾。
Smart膜厚儀:側重便攜性與快速篩查,適用于常規單層膜厚測量,但精度與功能擴展性不及OPTM系列。
應用場景:
OPTM適用于研發(R&D)與高精度QC,如半導體晶圓、光學濾光片;Smart膜厚儀更適合產線快速抽檢。
性價比優勢:OPTM以中型設備成本提供媲美橢偏儀的精度,且操作門檻更低,軟件內置NIST校準追溯,確保數據可靠性。
產品信息
特點
● 可攜帶至現場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
測量項目
膜厚測量范圍 | 1μm~50μm |
測量重復性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚儀與其他膜厚儀的比較
與桌上型光學膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現場”以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因為用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到值!
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家-成都藤田科技提供