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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>信號測試系統/半導體測試機> 4200A-SCS 半導體參數分析儀

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4200A-SCS 半導體參數分析儀

具體成交價以合同協議為準

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


 

FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學博士共同創辦的德國公司。基于 Science is international”的想法,“全球協同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學家到科學家,科學開創美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導體技術、材料科學、生命科學等科研領域,始終秉承“前沿、專業、科學”的宗旨,將前沿技術引進到協同實驗室。我們的產品覆蓋了微納加工制程;材料科學的檢測、分析;生命科學成像,腦科學與行為認知等相關領域。作為全球科技前沿的儀器供應商,FIRSTNANO具有全球技術視野、優質供應體系、以及嚴格的質量管控系統,能為客戶提供前沿的技術解決方案。

公司服務的客戶領域廣泛,其中包括消費電子、航空、航天、醫藥技術、半導體行業、光電子行業、高校和研究機構。

在成長的過程中,我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港(中華區)公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構。

我們真誠邀請業內英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚帆起航!

 

 

 

 

 

半導體儀器和電子產品耗材耗材

見證您的創新變為現實

 

4200A-SCS 是一款可定制且集成的參數分析儀,能同步提供電流 – 電壓(I-V)、電容 – 電壓(C-V)以及超快速脈沖式 I-V 表征的深度洞察。作為性能頂尖的參數分析儀,4200A-SCS 可加速半導體、材料及工藝的研發進程。

4200A-SCS 搭載的 Clarius™圖形用戶界面(GUI)軟件,具備清晰、無妥協的測量與分析能力。該軟件內置專業測量知識與數百項即用型應用測試,助力您快速、自信地深入探索研究。

4200A-SCS 參數分析儀具備的可定制性和可升級性,您可根據需求隨時(無論現在或將來)添加所需儀器。借助 4200A-SCS 參數分析儀,與重大發現的連接從未如此輕松。


4200A-SCS 半導體參數分析儀


 

 

核心性能規格


I-V 源測量單元(SMUs)


  • ±210 V/100 mA 或 ±210 V/1 A 模塊

  • 100 fA 測量分辨率

  • 搭配可選前置放大器時,測量分辨率可達 10 aA

  • 10 mHz – 10 Hz 超低頻電容測量

  • 100 µF 負載電容

  • 四象限運行

  • 支持 2 線或 4 線連接


4200A-SCS 半導體參數分析儀


C-V 多頻電容單元(CVUs)


  • 交流阻抗測量(C-V、C-f、C-t)

  • 1 kHz – 10 MHz 頻率范圍

  • 內置 ±30 V 直流偏置(差分 60 V),可擴展至 ±210 V(差分 420 V)

  • 搭配可選 CVIV 多開關模塊,可在 I-V 與 C-V 測量間輕松切換


4200A-SCS 半導體參數分析儀



脈沖式 I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)


  • 兩個獨立或同步的高速脈沖 I-V 源與測量通道

  • 200 MS/s 采樣率,5 ns 采樣間隔

  • ±40 V(80 V 峰峰值),±800 mA

  • 瞬態波形捕獲模式

  • 任意波形發生器,支持多電平脈沖波形,可編程分辨率為 10 ns


高壓脈沖發生器單元(PGU)


  • 兩個高速脈沖電壓源通道

  • ±40 V(80 V 峰峰值),±800 mA

  • 任意波形發生器 Segment ARB® 模式,支持多電平脈沖波形,可編程分辨率為 10 ns


4200A-SCS 半導體參數分析儀



I-V/C-V 多開關模塊(CVIV)


  • 無需重新布線或抬起探針,即可在 I-V 與 C-V 測量間切換

  • 無需重新布線或抬起探針,即可將 C-V 測量切換至任意端子

  • 支持 ±210 V 直流偏置


遠程前置放大器 / 開關模塊(RPM)


  • 自動在 I-V、C-V 與超快速脈沖式 I-V 測量間切換

  • 將 4225-PMU 的電流靈敏度擴展至數十皮安(pA)

  • 降低電纜電容影響


4200A-SCS 半導體參數分析儀




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