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eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測試系統功能說明
eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測試系統是一種用于測量不同壓力下粉末材料的電阻率、電導率、厚度、密度等參數的高精度儀器。它是在日本三菱化學分析技術之MCP‐PD51的基礎上進行改善完成的，具有以下功能：
內置的精密四探針探頭模腔組件和荷重傳感器單元，可以施加最大30KN的壓力，約95MPa，在壓力范圍內可設置任意壓力點進行測試分析。一鍵啟動，自動進行加壓、測試、釋放。
簡易操作軟件界面，可設置不同壓力點和保壓時間，自動測量壓實下粉末的電阻、電阻率、電導率、厚度、壓強、顆粒壓實密度特性等參數。測試報告自動生成，可輸出任兩種參量之關系曲線。
系統通過與三菱化學Loresta-GX (MCP-T700)高精度四探針儀連接，可測試寬范圍之粉體阻抗特征。電阻測試范圍為0.00110-4~9.999107 Ω；電阻率=ΩRCFt（RCF為糾正因子，t為厚度單位cm）。
的探針單元，高精度四探針測試原理，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。也可以裁剪φ20mm的正負電極片樣品來測試電池極片在不同壓力下的電阻變化；或者單獨使用MCP-T700及其標配探頭或選配探頭來測試片材，所謂多用途。
多重安全防護，主單元保護門開/關防護：透明聚碳酸酯蓋+防護開關；自動感知模腔整體組件是否放置準確或者是否放置防護；自動感知粉末模腔放置位置是否準確或者是否放置防護。
eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測試系統適用于阻性粉末材料研發及品質控制，可以測試碳粉、金屬粉末、墨粉和相關的粉體/磁性材料等。它是一種節能、高效、準確的粉體電阻率測試儀器eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測試系統采用精密的探針技術和高精度的測量電路，可以快速、準確地測定粉末材料的電阻率和電導率等參數。
該系統具有多種優點：
首先，它采用了高精度四探針測試原理，消除了樣品與探頭及引線所引起的誤差，確保了測試結果的準確性。
該系統配備了簡易操作軟件界面，使得用戶可以方便地設置不同的壓力點和保壓時間，自動測量壓實下粉末的電阻、電阻率、電導率、厚度、壓強、顆粒壓實密度特性等參數。此外，它還可以輸出任意兩種參量之間的關系曲線，方便用戶進行進一步的分析和比較。
eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測試系統采用了多重安全防護措施，包括主單元保護門開/關防護、自動感知模腔整體組件是否放置準確或者是否放置防護、自動感知粉末模腔放置位置是否準確或者是否放置防護等，有效保障了系統和操作人員的安全。