覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
 

 　X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
 

 　日立分析儀器XRF鍍層測厚儀系列在電子和金屬表面處理行業(yè)已有超過40年鍍層分析的成功經(jīng)驗。X-Strata920 XRF鍍層測厚儀可確保鍍層符合規(guī)格要求，并將鍍層過量或過少鍍層廢料造成的浪費減至少。隨著X-Strata功能的擴展，用戶可以通過該儀器進行更多工作。這一款新型X-Strata意味著可選擇高分辨率硅漂移探測器（SDD）或正比計數(shù)器定制儀器，以優(yōu)化其性能。此外，它現(xiàn)在擁有四個腔室和基座配置，可處理各種形狀和尺寸的樣品，包括汽車行業(yè)中的復雜幾何形狀。對于復雜的鍍層結構，SDD可以提供優(yōu)于正比計數(shù)器的優(yōu)勢，因為它更易分析具有類似XRF特征的元素，例如鎳和銅。這擴大了可以用于分析的元素范圍，包括磷 — 對于化學鍍鎳分析非常關鍵，并且可以更地測量較薄鍍層，例如符合IPC-4552A的納米范圍的金。