上海國(guó)際膠帶與薄膜展覽會(huì)與上海國(guó)際模切展覽會(huì)簡(jiǎn)稱(chēng)「APFE」，兩展結(jié)合起來(lái)共同搭建起了膠粘新材與功能薄膜行業(yè)國(guó)際性的商貿(mào)及技術(shù)交流平臺(tái)，成為當(dāng)今全球膠帶與薄膜行業(yè)的行業(yè)盛會(huì)，日立展臺(tái)恭候您的光臨。

2.1H展廳2B156展位

準(zhǔn)確獲得紙張、薄膜和離型膜上有機(jī)硅涂層的厚度和質(zhì)量非常重要。如果涂層太薄，可能無(wú)法充分脫離，將導(dǎo)致產(chǎn)品無(wú)法使用；如果涂層太厚，生產(chǎn)成本會(huì)變得過(guò)高。如果將粘合紙或粘合膜用于PCB，則粘合層上的任何殘留有機(jī)硅均可能對(duì)性能產(chǎn)生不利影響，因此必須仔細(xì)控制有機(jī)硅層的質(zhì)量。

LAB-X5000臺(tái)式XRF用于準(zhǔn)確可靠的質(zhì)量控制

功能強(qiáng)大的LAB-X5000是測(cè)量有機(jī)硅涂層重量之選。其堅(jiān)固緊湊的設(shè)計(jì)確保其能夠輕松適應(yīng)繁忙的生產(chǎn)環(huán)境。隨附的樣品旋轉(zhuǎn)器能夠輕松分析樣品盤(pán)上的多個(gè)點(diǎn)，從而檢驗(yàn)涂層的同質(zhì)性。已針對(duì)有機(jī)硅厚度測(cè)量對(duì)LAB-X進(jìn)行預(yù)先優(yōu)化，能夠校正粘土涂布紙或粘土填料紙的干擾。

X-Supreme8000臺(tái)式XRF用于大批量生產(chǎn)分析

X-Supreme8000是生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行分析大量樣品分析之選。該分析儀包括一臺(tái)十位自動(dòng)進(jìn)樣器，使用中可將十件樣品裝載至儀器中進(jìn)行自動(dòng)分析。X-Supreme可就各類(lèi)基材上的有機(jī)硅涂層重量厚度，提供準(zhǔn)確可靠的結(jié)果，并且能夠測(cè)量硅油中存在的鉑催化劑量，以便進(jìn)行過(guò)程控制。

熱分析儀器

日立的熱分析儀系列廣泛用于材料物性評(píng)測(cè)分析，比如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熱膨脹、軟化特性等。這類(lèi)儀器受到全球制造商和研究實(shí)驗(yàn)室的信任，且具有頂級(jí)靈敏度，能捕捉微小的熱事件。儀器整合了日立的RealView系統(tǒng)，在關(guān)鍵時(shí)刻具有可靠熱分析所需的精度和準(zhǔn)確度。