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岱美儀器技術服務(上海)有限公司

  • EVG805-薄晶圓解鍵合系統 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    EVG805-半自動系統(晶圓鍵合機) 用于剝離臨時鍵合和加工過的晶圓疊層,該疊層由器件晶圓,載體晶圓和中間臨時鍵合膠組成。該工具支持熱剝離或機械剝離。
    型號: 品牌:EVG所在地:上海市 對比
    自動晶圓鍵合對準機晶圓鍵合對準機鍵合對準機鍵合對準機價格
    2024/11/9 13:10:564996
  • 解鍵合晶圓鍵合機 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:EVG805
    EVG805-解鍵合晶圓鍵合機 用于剝離臨時鍵合和加工過的晶圓疊層,該疊層由器件晶圓,載體晶圓和中間臨時鍵合膠組成。該工具支持熱剝離或機械剝離。
    型號: EVG805 品牌:EVG所在地:上海市 對比
    自動晶圓鍵合對準機晶圓鍵合對準機鍵合對準機鍵合對準機價格
    2024/11/9 12:49:235181
  • 動態激光干涉儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:PhaseCam 4030
    PhaseCam 4030是一款緊湊、輕便的動態激光干涉儀,具有用于光學和光學系統測量的簡單手動控制。
    型號: PhaseCam ... 品牌:4D所在地:上海市 對比
    動態激光干涉儀動態干涉激光干涉
    2025/3/7 9:50:383222
  • Twyman-Green高性能動態干涉儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:PhaseCam 6010
    PhaseCam 6010是一款緊湊、動態的激光干涉儀,工作波長632.8nm,包含一個帶全電動控制的400萬像素相機。 這種Twyman Green具有軸上照...
    型號: PhaseCam ... 品牌:4D所在地:上海市 對比
    動態激光干涉儀激光干涉動態干涉
    2024/11/26 17:22:052503
  • FSM413紅外激光測厚儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FSM413紅外激光測厚儀主要產品包括:光學測量設備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸...
    型號: 品牌:FSM所在地:上海市 對比
    膜厚儀薄膜應力測試儀薄膜應力測試儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 14:01:595900
  • 電容式位移傳感器 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Microsense 5810/6810
    美國Microsense電容式位移傳感器*非接觸式電容式微位移測量—準確的電子感應技術, 無損樣品測量。
    型號: Microsens... 品牌:MicroSense所在地:上海市 對比
    傳感器位移傳感器電容式位移傳感器電容位移傳感器非接觸式位移傳感器
    2024/11/26 17:17:3811583
  • 白光干涉儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Nano X-2000S
    白光干涉儀廣泛應用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技術、材料、太陽能電池技術等領域。
    型號: Nano X-20... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    3D光學輪廓儀臺階儀白光干涉儀光學輪廓儀表面形貌儀
    2024/11/9 12:26:198033
  • RTEC 白光干涉儀+共聚焦一體機 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    該儀器具備轉盤式針孔共聚焦和白光干涉兩種光學測量技術,用于各種材料/涂層/器件的高精度表面三維特征 測量,能夠測量從粗糙的到光滑的,堅硬的到柔軟的,黏性的表面以...
    型號: 品牌:RTEC所在地:上海市 對比
    白光干涉共聚焦共焦形貌測量輪廓儀
    2024/11/9 14:46:204387
  • 晶圓幾何形貌及參數自動檢測機 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:PLS-F1000/F1002
    晶圓幾何形貌及參數自動檢測機PLS- F1000/ F1002 是一款專門測量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等...
    型號: PLS-F1000... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    PLS-F1000PLS-F1002晶圓幾何形貌形貌檢測岱美儀器
    2025/3/24 10:28:483897
  • 全自動帶顯微鏡多點測量 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Mic
    FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,可以將光斑縮小到幾個微米,進而分析微小區域或者粗糙表面薄膜特征。
    型號: FR-Mic 品牌:ThetaMetrisis所在地:東莞市 對比
    多層膜厚度測試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級薄膜表征全自動顯微鏡多點測量
    2024/11/9 14:10:076529
  • 高溫薄膜應力及基底翹曲測試設備 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FSM 500TC
    美國FSM 高溫薄膜應力及基底翹曲測試設備:美國FSM成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來為半導體行業等高新行業提供各式精密的測量設備。
    型號: FSM 500TC 品牌:FSM所在地:上海市 對比
    應力儀高溫應力測量儀應力測試儀應力測量儀薄膜應力測量儀
    2024/11/9 13:35:277282
  • FilmSense多波段橢偏儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FS-1
    FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。
    型號: FS-1 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    FilmSense多波段橢偏儀多波段橢偏儀多波段橢偏儀橢偏儀
    2024/11/9 15:39:053336
  • Daeil 臺式主動防振臺 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:DVIA-T
    DVIA-T是韓國Daeil公司推出的先進的臺式主動防震/隔振平臺,旨在將納米級成像儀器與低頻振動隔離開來,并在1 Hz時提供40-80%的隔振。
    型號: DVIA-T 品牌:DAEIL所在地:上海市 對比
    防振臺減震臺防震臺主動式防震臺DVIA-T主動式隔振臺
    2024/12/18 13:19:024691
  • 全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-Mic
    硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。
    型號: FR-Mic 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2025/3/7 9:55:5811311
  • EVG810 LT 低溫等離子活化系統 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    EVG810 LT 低溫等離子活化系統 應用:用于SOI,MEMS,化合物半導體和高級襯底鍵合的低溫等離子體活化系統
    型號: 品牌:EVG所在地:上海市 對比
    自動晶圓鍵合對準機晶圓鍵合對準機鍵合對準機鍵合對準機價格
    2024/11/9 12:38:492857
  • 等離子去膠 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    等離子去膠工藝擁有低污染顆粒,低成本大規模量產,高均勻性與高可復制性等工藝特征。
    型號: 品牌:所在地:上海市 對比
    等離子去膠
    2024/11/9 14:26:184435
  • 光學粗糙度測試儀 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:OptoScan 600
    OptoScan600是一款光學粗糙度測試儀,主要用于檢測晶圓缺陷、粗糙度、波紋度、翹曲度等數據。
    型號: OptoScan ... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    OptoScan 600光學粗糙度測試儀Optosurf
    2024/11/9 14:36:563113
  • 等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)系統 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Vision 310
    Vision 310等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)系統--PTI 790+ 系列的延續,延續了服務于多樣化市場的成功經驗
    型號: Vision 31... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    等離子體化學氣相沉積
    2025/7/31 11:13:18149
  • 等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)系統 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Vision 410
    Vision 410等離子體增強化學氣相沉積(PECVD)系統--PTI 790+ 系列的延續,延續了服務于多樣化市場的成功經驗
    型號: Vision 41... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    等離子體化學氣相沉積
    2025/7/30 16:40:25141
  • 光學顯微鏡適配器 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:FR-uProbe-LC
    FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應用,例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區域薄膜厚...
    型號: FR-uProbe... 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀拓展工具測量
    2024/11/9 16:27:201665
  • 全光譜橢圓偏光測厚儀SE950 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:Raditech
    Raditech致力于光學檢測設備,在光學量測設備領域專業度高、能提供整合性解決方案。推出第一臺國人自制的「全光譜橢圓偏光量測儀」及「全光譜反射式膜厚量測儀」,...
    型號: Raditech 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    全光譜橢偏儀測厚偏光Dymek岱美儀器
    2025/5/20 13:19:023442
  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統,用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 ...
    型號: 品牌:ThetaMetrisis所在地:上海市 對比
    膜厚儀薄膜厚度測繪微米級
    2024/11/9 16:23:411738
  • Stefan Mayer MR-3 主動消磁系統 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:
    MR3主動式直流消磁器是一款已經被證明能夠解決磁場干擾問題的解決方案。通常應用于電子顯微鏡,電子束,離子束儀器,核磁成像,生物核磁設備等的磁場干擾。 MR3是一...
    型號: 品牌:其他品牌所在地:上海市 對比
    主動消磁隔振MR-3
    2024/11/9 16:21:497556
  • EVG儀器自動掩模對準系統 參考價: 面議

    參考價: 面議 型號:IQ Aligner NT
    ?新型IQ Aligner NT具有高強度和高均勻度的曝光光學器件,新的晶圓處理硬件,可實現全局多點對準的200mm和300mm晶圓全覆蓋范圍以及優化的工具軟件...
    型號: IQ Aligne... 品牌:EVG所在地:上海市 對比
    光刻機光刻掩膜掩模曝光
    2025/5/20 13:17:542634

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