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二手測(cè)厚儀
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測(cè)厚儀可用于測(cè)量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, zui小測(cè)量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測(cè)量范圍：0-35um;
其特點(diǎn)為：激光自動(dòng)對(duì)焦、全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái)、簡(jiǎn)易自動(dòng)對(duì)位、具溫度補(bǔ)償功能、十字線自動(dòng)調(diào)整、可自行設(shè)計(jì)報(bào)告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格、五個(gè)可選準(zhǔn)直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測(cè)厚儀器的機(jī)型。測(cè)量精度：誤差控制在±5%.
范圍：
適用于本公司品質(zhì)部物理實(shí)驗(yàn)室X-ray測(cè)厚儀。
3.0 X-ray測(cè)厚儀操作要求及規(guī)范
3.1測(cè)試環(huán)境：溫度22±3℃，濕度60±15%。
3.2開機(jī)：打開測(cè)試主機(jī)、電腦、顯示器，打印機(jī)電源。
3.3進(jìn)入Windows XP系統(tǒng)，雙擊Xray圖標(biāo)，此時(shí)輸入設(shè)定的密碼。
3.4升壓：待機(jī)器完成初始化（既工作臺(tái)上下移動(dòng)一周）后，待機(jī)30分鐘，可進(jìn)行下一步操作。
波譜校準(zhǔn): 每日必做，作用在于讓儀器進(jìn)行自我補(bǔ)償調(diào)整。首先點(diǎn)擊工具欄中系統(tǒng)調(diào)校圖標(biāo) ，然后將系統(tǒng)調(diào)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)片放入儀器移至十字線中間，對(duì)焦，測(cè)量（按START鍵）。待儀器自動(dòng)完成*步，第二步至zui后一步。此時(shí)對(duì)話框自動(dòng)關(guān)閉，系統(tǒng)調(diào)校成功。若不成功，檢查是否做錯(cuò)，重做一次也失敗的話請(qǐng)致電儀器服務(wù)商。