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產品簡介
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產品的各種金屬鍍層的厚度。其特點為：雷射自動對焦、全自動XYZ樣片臺、Point and Shoot 自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調整、具有競爭力的價格、五個準直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破壞性器的*機型。
詳細介紹
X光無損非接觸測量，只需10-30秒即可獲得測量數據，zui小測量面積為直徑0.1mm圓面積，測量范圍：0-35um,測量誤差：5%以內。