原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇， 其測試功能強大，操作簡便易行。我們齊集數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行了全面革新。全新的系統設計，實現了低漂移和低噪音水平。現在，用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
原子力顯微鏡優秀的分辨率，與*的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。它是針尖掃描技術的新革新，一直處于先進地位。該系統配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ閉環掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質量也不會被損壞，實現了更大的數據采集輸出量。
分類：
1、接觸式：利用探針和待測物表面之原子力交互作用，此作用力很小，但由于接觸面積很小，因此過大的作用力仍會損壞樣品，尤其對軟性材質，不過較大的作用力可得較佳分辨率，所以選擇較適當的作用力便十分的重要。由于排斥力對距離非常敏感，所以較易得到原子分辨率。
2、非接觸式：為了解決接觸式之AFM可能破壞樣品的缺點，便有非接觸式之AFM被發展出來，這是利用原子間的長距離吸引力來運作，由于探針和樣品沒有接觸，因此樣品沒有被破壞的問題，不過此力對距離的變化非常小，所以必須使用調變技術來增加訊號對噪聲比。在空氣中由于樣品表面水模的影響，其分辨率一般只有55nm，而在超高真空中可得原子分辨率。
3、輕敲式：將非接觸式AFM改良，將探針和樣品表面距離拉近，增大振幅，使探針再振蕩至波谷時接觸樣品由于樣品的表面高低起伏，使的振幅改變，再利用接觸式的回饋控制方式，便能取得高度影像。分辨率介于接觸式和非接觸式之間，破壞樣品之機率大為降低，且不受橫向力的干擾。不過對很硬的樣品而言，針尖仍可能受損。
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