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更新時間：2025-02-04 08:45:35
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納米顆粒動態(tài)跟蹤分析儀特點
可視化納米顆粒
精確并可重復測量顆粒數(shù)濃度
粒度平均分布甚至高度分散樣品
粒子動力學過程，如：
粒子聚集，溶解，溶脹，增長和收縮率。
納米顆粒動態(tài)跟蹤分析儀規(guī)格
| 粒度測量范圍* | 10nm～2µM |
| 標準樣品體積 | 350µl ~1ml |
| 標準樣品濃度 | 5 x 106 ~2 x 108顆粒/ml |
| 樣品溫度范圍（控制） | 10°C ~50 ℃，±0.1 ℃ |
| 尺寸 | 55cm（長）x 66cm（寬）x 35cm（高） |
| 重量 | 27kg |
| 運行環(huán)境 | 15°C ~30°C，＜85% RH |
*可檢測顆粒大小取決于顆粒材料的折射率和溶劑
應用
| 電池 | 環(huán)境科學 | 顏料和油墨 |
| 催化劑 | 外分泌體，微泡和其他生物顆粒 | 聚合物 |
| 化學機械拋光 | 湖沼學 | 蛋白質(zhì)聚體 |
| 化妝品 | 金屬粉末 | 半導體 |
| 生態(tài)毒理學 | 海洋學 | 病毒 |
| 能源 | 藥物 | 水質(zhì)和水處理 |
技術(shù)背景
你有沒有想過：
如果使用動態(tài)光散射（DLS）系統(tǒng)，能夠給你真實反應出粒徑分布？
在透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備過程中，又會改變多少你的納米粒子？
為什么傳統(tǒng)的納米粒子跟蹤分析（NTA）不能提供準確可重復的結(jié)果？
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