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貨物所在地:廣東深圳市
更新時間:2025-05-16 14:35:35
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檢測分析測試化驗測定測量XRF鍍層厚度儀器
產(chǎn)品介紹
ACZET系列 X射線熒光分析測厚儀能提供:鍍層厚度和元素分析功能,不但性能*,而且*。分析鍍層厚度和元素成份同時進行,只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果,多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的選。
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點:
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù),該技術(shù)已經(jīng)被證實并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的22到U92,并且具有不同大小的樣品艙。
ACZET系列鍍層測厚儀的優(yōu)勢
操作軟件
X-Master是一款具備龐大應(yīng)用功能的軟件,并且我們更多新的應(yīng)用正不斷地加入更多新的應(yīng)用。
可選軟件模塊
選配置
Cube系列技術(shù)特點
一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T 16921-2005標準(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
二、特點
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
Item 項目 | Part & Ref Number 部件號 | Commodity & Description 貨物及描述 |
1 | Cube X射線鍍層測厚儀 |
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售后服務(wù)
檢測分析測試化驗測定測量XRF鍍層厚度儀器