TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統系統，可以滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求，在提供的圖像質量的同時，可完成復雜的納米操作并保證精度和操作靈活性。

TESCAN AMBER 配置了新的 BrightBeam™ 鏡筒，真正的無磁場超高分辨（UHR）可以實現各種分析，包括磁性樣品的分析，以及在 FIB 操作時 SEM 的實時監測。另一方面，創新的 Orage™  FIB 鏡筒配有*的離子光學系統和氣體注入系統，使得 TESCAN AMBER 成為了世界的樣品制備和納米加工的儀器。

模塊化、基于工作流的軟件確保了在所有應用中都能很大程度進行操控，不需要在復雜的技術之間進行取舍，用戶界面友好。因而 TESCAN AMBER 是FIB-SEM應用的理想選擇，也是所有追求日常科學和技術突破的人士的分析平臺。

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