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解說(shuō)電子商品進(jìn)行高溫老化實(shí)驗(yàn)的意圖
解說(shuō)電子商品進(jìn)行高溫老化實(shí)驗(yàn)的意圖
高溫老化實(shí)驗(yàn)箱適用于航空航天商品、信息電子、儀器儀表、電工、電子商品、各種電子元器件在高溫環(huán)境下查驗(yàn)其各項(xiàng)性性能指標(biāo)。
那么電子商品為何要進(jìn)行高溫老化實(shí)驗(yàn)，其作用是什么？（下面小編就客戶(hù)實(shí)踐中的測(cè)驗(yàn)來(lái)回答）
跟著電子技術(shù)的開(kāi)展，電子商品的集成化程度越來(lái)越高，構(gòu)造越來(lái)越細(xì)微，工序不斷增加，制作技術(shù)越來(lái)越雜亂，這樣在制作進(jìn)程中會(huì)產(chǎn)生一些埋伏缺點(diǎn)。電子商品在出產(chǎn)制作時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或技術(shù)辦法方面的原因?qū)е律唐返馁|(zhì)量問(wèn)題歸納有兩類(lèi)：
*類(lèi)是商品的性能參數(shù)不合格，出產(chǎn)的商品不符合運(yùn)用需求；
第二類(lèi)是潛在的缺點(diǎn)，這類(lèi)缺點(diǎn)不能用通常的測(cè)驗(yàn)手法發(fā)現(xiàn)，而需要在運(yùn)用進(jìn)程中逐漸地被露出，如硅片外表污染、組織不穩(wěn)定、焊接空泛、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
通常這種缺點(diǎn)需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)轉(zhuǎn)一千個(gè)小時(shí)擺布才干悉數(shù)被激活(露出)。明顯，對(duì)每只元器件測(cè)驗(yàn)一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力實(shí)驗(yàn)，來(lái)加快這類(lèi)缺點(diǎn)的提早露出。也即是給電子商品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模仿嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使埋伏故障提早呈現(xiàn)，趕快使商品經(jīng)過(guò)失效浴盆特性前期階段，進(jìn)入高牢靠的穩(wěn)定期。
經(jīng)過(guò)高溫老化可以使元器件的缺點(diǎn)、焊接和安裝等出產(chǎn)進(jìn)程中存在的危險(xiǎn)提早露出，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)丈量，挑選除掉失效或變值的元器件，盡可能把商品的早期失效消除在正常運(yùn)用之用，從面確保出廠(chǎng)的商品能經(jīng)得起時(shí)刻的考驗(yàn)。