（2008年榮獲第五屆全國高校物理實驗教學儀器評比一等獎）

    表面磁光克爾效應實驗系統 北京在 1845 年，Michael Faraday首先發現了磁光效應，他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表 面上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁極反射出 來時，發現了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學者進行鐵超薄膜磊晶成長在金單 晶(100)面上的磁光克爾效應量做實驗，成功地得到一原子層厚度磁性物質之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效 應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫，用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解 析靈敏度達一原子層厚度，且儀器配置合于超高真空系統之工作，因而成為表面磁學的重要研究方法。 

　　表面磁光克爾效應實驗系統 北京由本公司生產的表面磁光克爾效應實驗 系統是表面磁性研究中的一種重要手段，它在磁性超薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性超薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以 自動掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和超高真空系統相連，對磁性薄膜和超薄膜進行原位測量。 

　　儀器主要技術參數： 

　　1．半導體激光器 波長 650nm 輸出功率 2mW 

　　2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％ 

　　3．電磁磁鐵 中心zui大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm 

　　4．精密恒流電源 zui大電壓 38V zui大輸出電流 10A