顯微顆粒圖像粒度儀,顯微圖像采集系統(tǒng) 型號(hào)：HAD-TT180

HAD-TT180顯微顆粒圖像粒度儀是推出的新代顆粒圖像分析設(shè)備，HAD-TT180采用新的業(yè)顯微圖像采集系統(tǒng)，使樣品觀(guān)測(cè)更加清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返?ldquo;單體數(shù)據(jù)”、“形態(tài)參數(shù)”、“整體分布”等參數(shù)行分析和計(jì)算，可以輕松獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線(xiàn)圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù)，是對(duì)各類(lèi)顆粒樣品行觀(guān)測(cè)和分析的業(yè)儀器設(shè)備。配套的業(yè)顆粒分析軟件根據(jù)多年來(lái)用戶(hù)的使用意見(jiàn)行了更加人性化的升和改，由計(jì)算機(jī)自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線(xiàn)等“單體屬性”、以及包括長(zhǎng)徑比、型度在內(nèi)的“形態(tài)參數(shù)”。再通過(guò)步計(jì)算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線(xiàn)等豐富數(shù)據(jù)），軟件中還增加了多幅圖像拼接計(jì)算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數(shù)量，從而有效的保證了數(shù)據(jù)的代表性。后可將樣品的數(shù)據(jù)以報(bào)告的形式輸出（包含有圖像范例、圖表、數(shù)據(jù)列表等），非常便于測(cè)試人員對(duì)測(cè)試結(jié)果行管理和匯報(bào)。

HAD-TT180 顯微顆粒圖像儀參數(shù)及詳細(xì)配置

參數(shù)：

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

HAD-TT180顯微顆粒圖像儀作為業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是為顆粒或顆粒相關(guān)行業(yè)開(kāi)發(fā)的，它的突出優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在以下方面：

1. 業(yè)性強(qiáng)：與其他廠(chǎng)家的各種類(lèi)型圖像分析儀器相比，顆粒測(cè)試研究經(jīng)驗(yàn)與圖像學(xué)理論結(jié)合。本產(chǎn)品不但可對(duì)樣品的顆粒單體行描述，還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式行直觀(guān)表現(xiàn)。能夠立或輔助激光粒度儀等設(shè)備的行顆粒測(cè)試作。

2.數(shù)據(jù)直觀(guān)、易懂，分析結(jié)果目了然：常見(jiàn)的顆粒測(cè)試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在行顆粒檢測(cè)的同時(shí)還可觀(guān)測(cè)樣品形貌的直觀(guān)性?xún)?yōu)勢(shì)是其他所有顆粒測(cè)試設(shè)備所不具備的，這能夠使用戶(hù)更面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過(guò)程等信息。并且，對(duì)照直觀(guān)的樣品圖片，可以幫助用戶(hù)的理解報(bào)告中的數(shù)據(jù)含義。

3.應(yīng)用廣泛，性?xún)r(jià)比：“HAD-TT180顯微顆粒圖像儀”既可以作為種觀(guān)測(cè)儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡行各種樣品的觀(guān)測(cè)作，又可以計(jì)算樣品的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，操作直觀(guān)簡(jiǎn)便，應(yīng)用范圍十分廣泛。

說(shuō)明：電子顯微鏡為選配，按客戶(hù)要求配置