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產品簡介
粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA650適用于TR系列粗糙度儀。
詳細介紹
粗糙度儀測量平臺TA610
- 齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來
測量不容易放置的工件，可提高測量精度 - 花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
- 垂直升降高度：270mm
- 垂直升降微調量：20mm
TA620
- 絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測
量形狀較小的工件，可提高測量精度 - 花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
- 花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
- 垂直升降高度：300±1mm
- 升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈
TA650|TR300
- 垂直方向上的升降高度：300±1mm
微調由儀器上的可調支架完成 - 垂直方向上的旋轉角度：±45°
- 回程誤差：不大于手輪的1/6圈
- 平臺的平面度：00級|平面公差值3μm
- 平臺尺寸：600×420×80 mm
- 總高度：695 mm
- 垂直方向上的升降高度：300±1mm
- 絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測