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ZH410高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 型號:ZH410

具體成交價以合同協議為準
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ZH410
產品型號
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品牌
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其他
廠商性質
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北京市
所在地
訪問次數:563更新時間:2024-11-28 11:59:28
產品簡介
太陽能 硅片壽命 配已知壽命樣片、配示波器
產品介紹
高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 LT-1C τ:5~6000μs ρ>0.1Ω•cm 型號:ZH410 | 貨號:ZH410 |
太陽能 硅片壽命 配已知壽命樣片、配示波器 產品簡介 1、用途 用于硅、鍺單樹脂動態粘度計晶的少數載流子壽命測量,除需要有一個測量平面外,對樣塊體形嚴格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況,是單晶的重要檢測項目。 2、 設備組成 2.1、光脈沖發生裝置 重復頻率>25次/s 脈寬>60μs 光脈沖關斷時間<1μs 紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶) 脈沖電流:5A~20A 如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源 2.2、高頻源 頻率:30MHz 低輸出阻抗 輸出功率>1W 2.3、放大器和檢波器 頻率響應:2Hz~2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器:頻帶寬度不低于10MHz,Y軸增益及掃描速度均應連續可調。 3、測量范圍 可測硅單晶的電阻率范圍:ρ≥0.1Ω·㎝(歐姆·厘米) 壽命值的測量范圍:5~6000μs(微秒) 定性測試紙 |  |