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產品簡介
質量保證，咨詢
詳細介紹
| 簡介 | 硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。 實時對圖像進行分析、測量和統計，提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結果；   硅片缺陷觀測儀-產品特點 ■ 適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等； ■ 使硅片缺陷觀察工作簡單化，準確化，同時極大程度降低此項工作強度； ■ 實時對圖像進行分析、測量和統計，提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結果； ■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術較好，像素較高， 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富； ■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設計 ； ■ 有效分辨率為 200 萬像素； ■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統。 | ||