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Niton便攜式 X 射線熒光分析儀幫您從廢金屬作業中剔除猜測
XRF（X 射線熒光）是一種用于測定材料中元素組成的無損分析技術。XRF 技術通過分析可樣品由一級 X 射線源激發而散射出的熒光（或二級）X 射線，來確定樣品的化學屬性。樣品中的每一種元素受激發后都會產生一組特定的熒光 X 射線（“指紋”），因此對于材料化學成分定量及定性分析而言，XRF 光譜法是一種非常好的技術。
X 射線熒光過程:
用受控 X 射線管發出的高能 X 射線照射固體或液體樣品。
當樣品中的某個原子被能量充足（大于原子的 K 或 L 殼層結合能）的 X 射線撞擊時，就會從原子的一個內軌道殼層中逐出一個電子。
原子恢復穩定性，并使用來自原子更高能量軌道殼層之一的電子填補內軌道殼層的空缺。
電子通過釋放熒光 X 射線降至較低能量狀態。該 X 射線的能量等于電子兩個量子態之間的特定能量差。這種能量的測量是 XRF 分析的基礎。
如果廢品（包括存在污染物或危險元素者）中的確切化學組分不確定，則質量、安全和法規合規性均有風險。為幫助確保產品完整性，廢金屬作業可憑借 Thermo Scientific™ Niton™ 便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀進行精確、可靠的材料鑒定。
Niton 分析儀可驗證幾乎所有類型金屬合金元素，包括微量級別到工業上的純金屬，并且能夠區別組分幾乎相同的合金品位。
明確鑒定物料輸送點的眾多合金并保證產品質量
確定金屬組分，進行精確分類
鑒定雜質/痕量元素
數秒內獲得無損分析，且無需或極少需要樣品制備
提高金屬加工作業的速度。
可對廢品作業精確分類并分級。