Rise-3002型顆粒圖像分析儀將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過的數字攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析，具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結果。
技術參數：
1、 測量范圍：1～3000微米
2、 zui大光學放大倍數：1600倍
3、 zui大分辨率：0.1微米/像素
4、 準確性誤差：< ±3%(國家標準物質)
5、 重復性偏差：< ±3%(國家標準物質)
6、 數據輸出：周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）、D30、D97、個數長度平均徑、個數面積平均徑、個數體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數、曲率系數。
