適用標準:
《GJB 128 半導體分立器件試驗方法》
《GJB 33A-97 半導體分立器件總規范》
《SJ/Z 9014 半導體器件 分立器件》
《SJ 2215.1-82 半導體光耦器測試方法》
判斷標準依據：JJF 1094-2002《測量儀器特性判定》
主要組成
半導體分立測試儀
主控計算機一臺
校準工裝
測試工裝:4款(SOD-123、SOD-323、SOT-23、SMA)
技術參數
半導體分立測試儀
二極管：BVR、IR、VF、VZ、RZ
三極管：BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、 ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、 VCESAT
可控硅：BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON
場效應管：BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、 GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、 VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP
IGBT：BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
達林頓矩陣：CEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
光敏二、三極管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE
單結晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
隨機資料
1、中文版的說明書一份
2、出廠
3、提供實驗配件及清單
一、產品特點:
測試晶種覆蓋面廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重復性和-一致性、工作穩定，具有保護系統和被測器件的能力，且具有圖示功能。測試儀由計算機操控，測試數據可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能( 圖示儀功能)。系統軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統軟件穩定、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊技術指標二、測試參數:
1:二極管
VF、IR. BVR 隨機附件
2.穩壓 (齊納)二極管
VF、IR、BVZ
3.晶體管
Transistor (NPN型/PNP型)
VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT.
VBESAT、VBEON
4.可控硅整流器 (晶閘管)
IGT、VGT、IH、 IL。VTM
5. 場效應管
IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS .
6。光電耦合器
VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT
7.三端穩壓器
Vo、Sv. ID、IDV .及國標要求。
