長期工作壽命試驗簡介
我們把電子產品在規定的工作及環境條件下進行的壽命試驗稱為工作壽命試驗。工 作壽命試驗周期在1000小時以上者稱為長期工作壽命試驗。長期工作壽命試驗又分連 續工作壽命試驗和間斷工作壽命試驗兩種。
連續工作壽命試驗
這是傳統的壽命試驗方法。試驗在室溫下進行。它又可分為靜態工作壽命試驗和動 態工作壽命試驗。半導體器件的靜態試驗通常對器件加上zui大直流額定負荷。如對晶體 管規定在室溫(25士5)X：下加上集電極zui大耗散功率，分別在240、480、1000、2000、3000、 4000,5000小時后測憊電參數。這種試驗方法是由外加功耗使內部結溫達到應有極限， 以檢驗器件的失效情況。通過此項試驗，可以了解產品在額定應力下工作的可靠性。動 態試驗是模擬器件實際工作狀態的試驗，所得結果反映了產品使用的可靠性。如對集成 電路規定在室溫下加額定電源電壓、額定負載和一定頻率信號的情況下進行壽命試驗。
間斷工作壽命試驗
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