激光粒度儀是當光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發(fā)生散射現象。散射光的傳播方向將與主光束的傳播方向形成一個夾角θ。散射理論和實驗結果都告訴我們，散射角θ的大小與顆粒的大小有關，顆粒越大，產生的散射光的θ角就越小;顆粒越小，產生的散射光的θ角就越大。散射光I1是由較大顆粒引起的;散射光I2是由較小顆粒引起的。進一步研究表明，散射光的強度代表該粒徑顆粒的數量。這樣，在不同的角度上測量散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。
激光粒度儀的量程是指系統所能達到的zui大上限和zui小下限，分全程量程和分檔量程兩種形式。
全程量程是從上限到下限一次測量，這種設置的優(yōu)點是操作簡便，重復性好，沒有歧義，是目前大多數國內外激光粒度儀制造商普遍采用的方式；分檔量程是在全量程中又分成若干段。它的優(yōu)點是在探測器數量有限的情況下提高分辨率，缺點是容易產生歧義（同一個樣品在不同檔的測試結果不一致），調整過程容易產生誤差，是早期激光粒度儀采用的技術。
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