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HORIBA科學儀器事業部

橢圓偏振光譜儀主要特點和主要用途

時間:2017-6-19 閱讀:2475
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     橢圓偏振光譜儀是本公司自主研發擁有技術并集光機電于一體高精度高穩定橢圓偏振光譜儀。從儀器狀態調整、參數設置、數據采集一直到數據處理,均通過計算機自動完成,可工作于從紫外至近紅外的寬廣光譜區,波長連續可調,入射角度從20度到90度內手動可調。
 
    橢圓偏振光譜儀主要適用于科研院所的信息光電子功能薄膜、體材料的光學性質和結構特性研究,可被研究材料種類包括:金屬和合金、元素和化合物半導體、絕緣體、超導體、磁性和磁光材料、有機材料、太陽能薄膜、多層薄膜材料、液體材料等。在測量中,可按研究條件同時對入射角和波長進行自動精細掃描,從而增加研究的靈活性,便于用戶獲得更多的光譜信息進行數據分析,提高研究的質量和可靠性,并實現無接觸無損傷測量。
 
    橢圓偏振光譜儀的性能指標達均已達到同類技術的先進水平,產品國內及海外市場。
 
橢圓偏振光譜儀主要特點
 
    WINXP友好操作界面
    實測光學常數種類:復折射率、復介電函數、吸收系數、反射率。
 
橢圓偏振光譜儀主要用途
 
    1.各種功能材料的光學常數測量和光譜學特性分析;
    2.測量薄膜材料的折射率和厚度;測量對象包括:金屬、半導體、超導體、絕緣體、非晶體、超晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料;測量光學常數:復折射率的實虛部、復介電常數的實虛部、吸收系數a、反射率R。

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