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產品簡介
詳細介紹
高低溫冷熱沖擊試驗箱用途介紹
設備是通過高溫儲能槽與低溫儲能槽快速溫度轉換來實現對半導體、5納米芯片、動力電池、電路主板、石墨烯屏幕、華為手機屏，iPhone觸摸屏、watch在*溫和極低溫的環境中進行冷熱交替膨脹和收縮試驗，使產品中產生高溫變應力和應變來發現潛存于產品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵提前曝露。避免產品在使用過程中受到環境應力的考驗時而導致失效，對于提高產品出貨良率與降低返修次數有顯著的效果。
設備編程測試程序
1.CJ602S3I
(1)高溫暴125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫150℃暴露30min，環境溫度5min，低溫-55℃暴露30min。
2.CJ602SII
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫暴露 150℃，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min。
(3)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
3.CJ603S3I
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
4.CJ603S3II
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。
(2)高溫暴露150℃，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min。
(3)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
5.CJ605S3I
(1)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時間均30min。
(2)高溫150℃暴露30min，環境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。
6.CJ605S3II
(1)高溫150℃暴露30min，低溫- 55℃暴露30min。
(2)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時間均30min。
(3)高溫125℃暴露30min，環境溫度暴露5 min，低溫-55℃暴露30min。
高低溫冷熱沖擊試驗箱滿足測試標準及條件
1.GB/T2423.1-2001低溫試驗方法。
2.QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規則。
3.滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。
4.SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式。
5.SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式。
6.GB/T2423.2-2001；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N。
7.GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
8.GJB150.3-86；GJB150.4-86；GJB150.5-86；GJB150.5-86溫度沖擊試驗。
9.EIA 364-32熱沖擊（溫度循環）測試程序的電連接器和插座的環境影響評估。
10.GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；GB/T 2423.22-2002溫度變化。
11.設備的型號和規格選擇如下：
