目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學儀器>>導軌及光具座綜合實驗>> WSY-2型干涉測量實驗裝置
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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產品詳細資料
該儀器主要利用導軌、支架及光學組件、如雙棱鏡分成兩束光，將兩束光相遇產生的明暗相間的干涉條紋用讀數顯微鏡測出條紋間距，再用二次成像繪測出一大、一小兩個縫像（即虛光源S1、S2）之間的距離代入公式即可。
楊氏雙縫干涉
菲涅爾雙棱鏡干涉
牛頓環裝置
1米導軌及組件、透鏡、二維調整架、干板架、白屏、單面可調狹縫、低壓鈉燈、雙棱鏡、牛頓環及直立架、讀數顯微鏡、雙縫片、半透半反等
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