Chroma 3270 微型IC測試分類機特別適合 CMOS 影像感應組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試后產品置于適當之 Tray 盤。

Chroma 3270 能同時處理32個待測物進行平行測試，并提供50?C~125?C高溫測試選擇。不但能提高產量，提升生產良率，同時大幅降低測試成本。

Chroma 3270 微型IC測試分類機的特色：

• 適合 CMOS 影像感應組件量產需求
• 可靠的高速 Pick&Place 分類機
• 3x3 mm 微型 IC 處理能力
• 浮動頭可有效率平衡測試壓力
• 自動測試壓力學習
• IC 殘留檢測功能