AQ6317是一種良好的光譜分析儀，應用范圍廣泛，包括光源評估、光學器件損耗波長特性測量和波分復用（WDM）系統的波形分析。特別是在1550nm波段，該裝置實現了較高的波長精度和波長線性度，可以對波分復用的光學器件進行評價。分析功能使操作簡單，可擴展性強。AQ6317包含了安藤xin的光譜分析儀技術。下一代的參考設備。
特征
●寬50 GHz頻譜動態范圍內的50 GHz WDM信號高分辨率測量。
●用于WDM和其他光學設備（LD、LED、FBG等）的通用分析功能分析功能
●高波長精度在1550nm波段提供±0.05nm波長精度，波長線性度為±0.01nm，特別適用于高精度損耗波長特性和WDM器件的其他評估。波長標度在空氣和真空中都顯示。
●同步掃描結合AQ4320可調諧激光源，可通過高速同步掃描實現更高的波長分辨率/更寬的動態范圍。
●高波長分辨率達到0.015納米的波長分辨率
●在600 nm至1750 nm的寬帶覆蓋范圍內具有高靈敏度，高靈敏度允許在-90 dBm下測量光。
●低極化依賴性測量，如光放大器增益，可準確進行，因為極化依賴性被抑制至±0.05 dB。
●高精度，精度在±0.3 dB以內。
●高功率測量：大+20 dBm（100 mW），即使光放大器的高功率輸出也可以在沒有光衰減器的情況下直接測量。
9.4英寸彩色液晶顯示器
●可測量脈沖光
三個單獨的痕跡記憶
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