課程主題：【小貝開講】粒度表征常用方法、優(yōu)缺點及高分辨粒度表征的重要性

課程時間：2021-4-9 14:00

課程簡介：

隨著科技的發(fā)展，關(guān)于顆粒粒度的表征方法已從初簡單的篩分，發(fā)展到各種原理的檢測方法，包括靜態(tài)激光衍射法、動態(tài)激光散射法、離心沉降法、光阻法、電阻感應(yīng)法、拍照圖像法等，這些方法各有優(yōu)缺點和適用性，對這些方法的了解有助于我們使用合適的工具對我們的產(chǎn)品或中間產(chǎn)物或原料進(jìn)行有效的研究和質(zhì)控。 高分辨的粒度表征技術(shù)是科學(xué)與產(chǎn)品不斷發(fā)展的必然要求。因為研發(fā)人員需要依靠粒度數(shù)據(jù)做出決策，QC需要及時發(fā)現(xiàn)批次間細(xì)微的差異。只有高分辨粒度表征技術(shù)，才能幫助客戶發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵細(xì)節(jié)，實現(xiàn)精|準(zhǔn)表征，獲得更加真實的粒度信息。然而，當(dāng)前很多時候我們都是第|一時間使用激光粒度儀，而這其中有時會面臨著測試結(jié)果遺漏了關(guān)鍵細(xì)節(jié)的風(fēng)險。 此次研討會將對以上內(nèi)容一一向您做介紹。

姚金龍  貝克曼庫爾特生命科學(xué)

研究生畢業(yè)后先后在中科院上海有機(jī)所，上海高等研究院和某著名顆粒分析廠家工作，2019年正式加入貝克曼庫爾特公司。在激光粒度儀，納米粒度和Zeta電位分析儀、顆粒圖像分析儀、納米可視追蹤分析儀和粉體顆粒流變儀等具有5-10年的操作應(yīng)用經(jīng)驗，負(fù)責(zé)全|國粒度相關(guān)產(chǎn)品售前、售后應(yīng)用技術(shù)支持。