9月4日在廣州建國酒店舉行的“顆粒特性表征技術新進展”講座圓滿結束，來自廣東各地及華西南區的工礦企業、高校及研究單位的近百名客戶參加了本次講座。

        本次講座由貝克曼庫爾特公司美國總部資深技術專家、顆粒分析儀器屆人士許人良博士主講。在近4個半小時的時間里，許博士作精彩的演講。講座中他分別介紹了納米粒度測量的標準與相應的測量新技術、貝克曼庫爾特公司*的美國---透明電極測量高濃度ZETA電位技術、創新的固體表面ZETA電位測量技術、粉體干法測量的先進技術----“龍卷風”激光粒度儀，以及的Multisizer系列的庫爾特計數儀。

       在技術問答環節，由于聽眾提問踴躍，時間遠遠超出設定時間，使得“技術問答”環節一直延續到晚飯的飯桌之上........

許人良博士在演講

聽眾聚精會神

技術講座現場

聽眾提問