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介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器廣泛應用于大專院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T5594.4-1985。

主要技術指標

1．頻率范圍及刻度誤差

范圍：50KHz~50MHz共分七個波段，允許誤差：+2%

1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz

1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz

1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz

1.7：25~50MHz；

2．Q值測量范圍及誤差

范圍：5~500

誤差：1）當頻率從5~25KHz

量程5~50 +5%

量程15~150 +5%

量程50~500 +7%

2）當頻率從25~50MHz，所有量程均為+10%

3）△Q范圍：-25 ~ 0 ~ +25。

3．電感測量范圍及誤差

范圍：0.1μH~100mH

誤差：+5%+0.01μH

4．試樣尺寸

圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時）

Φ25~35mm（ε=12~30時）

Φ15~20mm（ε>30時）

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