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QQ交談中國代理美國Filmetrics薄膜測厚儀銷量大增
點擊次數：674 發(fā)布時間：2016-6-28
Filmetrics F40薄膜測厚儀
世界*,經濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統(tǒng),測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點測量、顯微鏡斑點測量、自動測繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測等功能型號的膜厚測試儀產品。Filmetrics 膜厚測試儀產品輕點鼠標就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設計意味著您能在幾分鐘內完成*個薄膜厚度測量！
Filmetrics F40主要用于測試各種透明半透明的膜厚.
產品簡介：
可安裝在任何顯微鏡外，有三種不同波長選擇(波長范圍從可見光400nm至近紅外1700nm)；
測量的薄膜厚度范圍從20nm 到 20um，精度為 0.1nm 。可提供zui小10um光點(50倍放大倍數)來測量微小樣品。
產品特性：
操作簡單、使用方便；
測量快速、準確；
體積小、重量輕；
價格便宜。
產品應用：
半導體行業(yè): 光阻、氧化物、氮化物；
LCD 行業(yè): 液晶盒間隙厚度、 Polyimides；
光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片
Filmetrics光學膜厚測試儀通過分析薄膜的反射光譜來測量薄膜的厚度，通過非可見光的測量可以測量薄至1納米或厚至13毫米的薄膜。利用反射式光譜測量技術原理進行無損測量，可測量薄膜厚度及光學常數。測量精度達到埃級的分辯率，測量迅速，操作簡單，界面友好，是目前市場上的膜厚測量儀設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。
其可測量薄膜厚度在10埃至10毫米之間，測量精度高達1埃，測量穩(wěn)定性高達0.7埃，測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選。可應用領域包括：生物醫(yī)學（Biomedical）, 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。
通過Filmetrics光學膜厚測試儀反射式光譜測量技術,zui多4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數秒鐘測得。其應用廣泛，例如 :
半導體工業(yè) : 光阻、氧化物、氮化物。
LCD工業(yè) : 間距 (cell gaps)，ito電極、polyimide 保護膜。
光電鍍膜應用 : 硬化鍍膜、抗反射鍍膜、過濾片。
極易操作、快速、準確、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點，Filmetrics光學膜厚測試儀提供以下型號以供選擇:
F20 : 這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū) 至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型，可以實現(xiàn)反射、膜厚、n、k值測量。
基底實例：
對于厚度測量，大多數情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學常數測量，需要一塊平整的鏡面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要進行處理使之不能反射。
包括：
silicon（硅） glass（玻璃） aluminum（鋁）
gaas（砷化鎵） steel（鋼） polycarbonate（聚碳酸脂）
polymer films（高分子聚合物膜）