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ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別
廣州儀德公司專業代理日本理學波長X射線熒光光譜儀，在近年來，在X射線熒光分析的樣品置備方面，對微小及微量樣品的要求日趨嚴格。針對用傳統儀器不能解決的樣品制備及測試等問題，通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發，不僅解決了以上問題，而且應用范圍越來越廣泛。
下面分享如何應用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎，任意測試位置進行定性分析的儀器，通過對一片片狀切削屑進行定性分析及半定量值分析的結果，判別其鋼種。
操作部分
一、儀器
波長色散X射線熒光光譜儀（ZSX Primus系列，儀德代理）
二、樣品制備
將樣品放在有黏著劑的薄板上加壓成型備用。
三、測試條件
元素 | F~Mg | Al,Si | P,S | Cl | K,Ca | Ti~U |
X射線管 | 端窗型 Rh管 | |||||
kV-mA | 30-120 | 30-120 | 30-120 | 30-120 | 40-90 | 50-72 |
分析直徑 | 0.5mm | |||||
狹縫 | 標準分辨率 | 標準分辨率 | 標準分辨率 | 高分辨率 | 標準分辨率 | 標準分辨率 |
分光晶體 | TAP | PET | Ge | Ge | LiF200 | LiF200 |
檢測器 | F-PC | F-PC | F-PC | F-PC | F-PC | SC |
PHA | 微分法 | |||||
X射線通道 | 真空 | |||||
四、測試結果
將樣品作片狀切削后，切削屑變形為圓錐形。放在附著黏合劑的薄板上加壓成型后，放入微區分析專用樣品架中。
上圖顯示出CCD相機拍攝的樣品表面圖。將分析面積設定在0.5mmφ進行定性分析。
通過定性分析，檢測出Fe,Cr,V,W,Mo等元素。如下圖所示，得到了充分體現波長色散型儀器的特征---具有高精度角度分辨率，而且散射線（背景）低的圖表。
Fe,Co
Cr
V
W,Cu
Mo
關于檢測出的成分，使用儀器內置的靈敏度數據庫，通過FP法計算出半定量值，結果如下圖所示。根據牌號庫，可以確認片狀切削屑為工具鋼的一種。
表-1 SQX分析結果和樣品規格[mass%]
SQX | SKH10(例) | |
Mn | 0.35 | <0.40 |
Cr | 4.2 | 3.80 - 4.50 |
Mo | 0.69 | - |
V | 4.6 | 4.20 - 5.20 |
W | 12.3 | 11.50 - 13.50 |
Co | 5.0 | 4.20 - 5.20 |
Cu | 0.20 | - |
Fe | 72.7 | 殘分 |
五、實驗總結
類似于這樣的微量樣品，通過選擇合適的樣品制備和分析方法，可以得到另人滿意的分析數據。關于片狀樣品，使用X射線分析法能夠有效分析出其構成鋼種。今后，發揮樣品測試后可以回收的特點，在微量樣品定量值評價方面，會有新的用途。了解更多有關X射線熒光光譜儀的相關知識及應用方案，關注儀德微信公眾號及，有對此有更好的看法可致儀德郵箱發表你的看法。