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RFP測頭RENISHAW*點密度的表面數據片區
閱讀：1109 發布時間：2020-12-4RFP測頭RENISHAW*點密度的表面數據片區
在五軸坐標測量機測量平臺上完成結構光檢測
RFP測頭在雷尼紹現有產品系列的基礎上新增非接觸式結構光檢測技術，增強了REVO系統的多類型傳感器功能。雷尼紹坐標測量機產品現有五個不同的可互換測頭系列，每個系列均經過專門設計，以充分發揮REVO系統的五軸運動和無級定位優勢。
RFP測頭可檢測自由曲面和復雜幾何形狀，并快速提供具有*點密度的表面數據片區。
RFP的特性與優點
- 與其他非接觸式結構光檢測系統不同，RFP測頭不需要通過參考標記整合從工件不同區域采集的數據，而是由REVO系統自動整合數據。
- 自動曝光補償功能可確保針對不同材料、表面顏色和紋理的工件均可獲得數據結果，無需使用亞光物質涂覆工件。
- 兩個簡單易用的軟件工具可提供檢測路徑規劃和數字化采集功能。
- RFP檢測規劃器用于路徑規劃以及從CAD生成DMIS工件程序。
- RFP數據采集器軟件用于在沒有CAD模型的情況下采集工件數據，以便進行逆向工程。
RFP能夠以*采集速率提供高密度數據，從而實現對表面輪廓的高精度測量。
首先，測頭在工件表面上投射一個條紋圖案；然后，測頭上的攝像機采集條紋圖案的變化，用于生成一個3D表面的高密度數據點云；后，3D測量軟件評估數據云，得出檢測結果。
RFP測頭由REVO五軸測量技術支持，可在無級定位坐標測量機平臺上提供高精度測量結果。所有REVO傳感器采集的數據均會自動參照同一基準，并與所有其他REVO-2傳感器采集的數據合并，以在同一臺坐標測量機上實現工件檢測能力。