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Dektak XTL 探針式輪廓儀新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺...
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100ContourX-100光學輪廓儀是準確和可重復的非接觸式表面計量設備。
bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀快速，非接觸式3D表面計量自動化臺式系統。
ContourX-200三維光學輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
布魯克NPFLEX 三維表面測量系統三維表面測量系統為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。
ContourGT-X光學輪廓儀實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。它積累了*代產品在白光干涉技術上的，實現了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米...
光學輪廓儀系統ContourGT-I汽車發動機、軸承、醫療器械、光學鏡片、半導體、LED、太陽能、生物醫學、高校、研究院測試過程更快、更便捷。
摩擦磨損試驗機UMT-TriboLab布魯克公司推出的UMT TriboLab通用機械性能測試儀，是一款功能強大且靈活的摩擦學測試系統。其模塊化設計允許用戶輕松...
工藝與材料表征系統 TriboLab CMP布魯克公司的TriboLab CMP系統結合了超過20年的CMP領域專業知識，為工藝開發提供了高精度和高重復性的解決...
布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 是一款集成在掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）...
布魯克電鏡專用原位納米力學系統 PI 85L布魯克Hysitron PI 85L是專為SEM設計的多用途測試系統，適用于熱學、電學和力學測試。它利用SEM高分辨...
布魯克電鏡專用原位納米力學測試系統PI 88布魯克Hysitron PI 88是一款高度模塊化的原位納米力學測試系統，專為SEM環境設計。它能夠實現力學測試與S...
布魯克透射電鏡專用原位納米力學系統PI 95布魯克Hysitron PI 95是專為透射電子顯微鏡(TEM)設計的多功能測試系統，支持高靈敏度的熱學、電學和力學...
納米力學測試系統TI 980一臺優異納米力學測試儀器所需的要求，實驗上的靈活度與可實現性，測量穩定性，以及系統設計的模塊化。
Hysitron 納米力學測試系統可以采用TI Premier 的多種基本配置完成常規測量的研究，同時多樣化的升級選項可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。
摩擦磨損儀/納米壓痕布魯克UMT摩擦磨損試驗機由于其良好的兼容新和多模塊化設計得到了市場。
低真空鍍膜儀CCU-O10LVCCU-010 鍍膜機提供兩種款型。CCU- 010 LV低真空鍍膜機，CCU- 010 HV 高真空鍍膜機。
高真空鍍膜儀CCU-O10HV不論您想要進行濺射、碳蒸發還是等離子處理，您更換工作頭，就能完成各種應用。
AFM探針/原子力探針/納米壓痕（金剛石）AFM探針，原子力顯微鏡探針，veeco探針，Bruker探針
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