M370是一個模塊化的系統，可實現當今所有微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試：
-掃描電化學顯微鏡(SECM)
-掃描振動電極測試(SVET)
-掃描開爾文(Kelvin)探針測試(SKP)
-微區電化學阻抗測試(LEIS)
-掃描電解液微滴測試(SDS)
-非觸式微區形貌測試(OSP)
M370利用納米級分辨率的快速精確，閉環x,y,z定位系統，并連同一個便捷的數據采集系統使用戶依據自己的實驗選擇配置。此系統設計靈活且人體工程學設計方便確保池體，樣品和探針的進入。
1.掃描電化學顯微鏡系統SECM370
SECM370是一款精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學性質。
應用
*研究通過膜的流量
*監測生物活性
*動力學參數確定
*影像固定化酶
*活細胞監測
*流體-流體界面
*化學成像的生物系統
*燃料電池材料的研究
*微區ISE
*表面改性
*腐蝕科學
2.掃描卡爾文探針測試系統SKP370
掃描卡爾文探針系統SKP370，是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術是用一個振動電容探針來工作的，通過調節一個外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關。SKP的*性質使在潮濕環境甚至是氣態環境中也可以測量，將不可能研究變為現實。
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