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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
重慶冷熱沖擊試驗箱TSL-80A重慶高低溫沖擊試驗箱
電子元器件行業(yè)里有宏展設(shè)備的太多了，我們的高低溫沖擊老化設(shè)備是產(chǎn)品，得到了電子元器件行業(yè)很多客戶的認可，我們的服務(wù)也是快捷可靠的。
高低溫沖擊試驗箱是重慶宏展重點發(fā)展設(shè)備之一，是產(chǎn)品，近期為銷量也在做活動，選購。
重慶冷熱沖擊試驗箱設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
重慶冷熱沖擊試驗箱TSL-80A重慶高低溫沖擊試驗箱設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
重慶冷熱沖擊試驗箱TSL-80A重慶高低溫沖擊試驗箱
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W | TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W | TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W | TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W | |||||
標稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | |||||||
溫度恢復(fù)時間※2 | 5分鐘以內(nèi) | |||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
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重慶冷熱沖擊試驗箱TSL-80A重慶高低溫沖擊試驗箱
內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | ||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | |||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | |||
外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | ||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | |||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | |||
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。 | |||||||
※2恢復(fù)條件：小于5分鐘，室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，塑封IC。（均布） | |||||||
TSL-80A重慶高低溫沖擊試驗箱
設(shè)備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
重慶冷熱沖擊試驗箱TSL-80A重慶高低溫沖擊試驗箱