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Advantest Q8347 光譜分析儀|OSA|日本愛德萬
品牌：日本愛德萬 | Advantest
? * 高分辨率：0.01nm（1.55µm處）, 0.001nm（0.5µm處） ,1GHz（光頻模式）
? * 高波長精度：±0.01nm
? * 相干分析范圍：±165nm
? * 彩色液晶顯示
? * 測量速度：1～3.5秒
產品簡介
詳細介紹
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Advantest Q8347 光譜分析儀|OSA|日本愛德萬
品牌：日本愛德萬 | Advantest
? * 高分辨率：0.01nm(1.55μm處), 0.001nm(0.5μm處) ,1GHz(光頻模式）
? * 高波長精度：±0.01nm
? * 相干分析范圍：±165nm
? * 彩色液晶顯示
? * 測量速度：1～3.5秒
Q8347光譜分析儀采用了帶有麥克爾遜干涉儀的傅立葉光譜系統，因而提高了光譜分析性能。在1550nm波段，可同時達到0.01nm的分辨率和±0.01nm的精度(光頻)顯示時;1GHz的分辨率和±1GHz的精度。Q8347能準確地分辨出WDM通信中各種波長的光，并準確測量其波長。且Q8347能分析由LDs和Soliton傳輸產生的自激，還能測量窄帶光學濾波器。
規格
|
| 標準模式 | 高分辨率模式 | |
波長 | 測量范圍 | 0.35μm～1.75μm | ||
zui大分辨率 | 約0.1nm/1.55μm | 約0.01nm/1.55μm | ||
精度 | ±0.1nm以下 | |||
測試帶寬 | 0.01nm/DIV～140nm/DIV | |||
電平 | 測試范圍 | -65dBm～+10dBm(0.7μm～1.6μm) | ||
精度 | ±2.0dB以下(在波長0.85μm、1.31μm、1.55μm處,輸入電平-10dBm) | |||
線性(*1) | ±1.0dB/25dB以下 | |||
動態范圍 | 30dB以上（單一模式光譜,峰值波長到±0.5nm的電平差) | |||
偏光依存性(*2) | ±0.8dB以下(+23℃±5℃) | |||
標尺 | 0.2、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0dB/DIV及線性 | |||
處理功能 | 測量時間(*3) | 1秒以下 | 2.5秒以下(長波帶:0.95～1.75μm) | |
3.5秒以下(短波帶:0.35～1.05μm) | ||||
存貯功能 | 16畫面(測量數據) | Battery backup | ||
顯示 | 頻率、多層、三維、連續監測（功率、波長） | |||
計算/分析 | 光譜分析，相干分析（分析范圍，zui大±165mm） | |||
輸入/輸出 | 輸入連接器 | FC連接器（內部光纖，PC研GL50/125） | ||
| 數據輸出 | GPIB標準配置，直接繪圖儀輸出(*4) | ||
*1、輸入電平0dBm以下
*2、波長1.55μm
*3、測量條件：單次測量，一次平均，測量時間從觸發始至SRQ輸出結束，測量在長波段進行。
*4、接繪圖儀：R9833(ADVANTEST),7475A,7440A,7470A