瑞典百歐林科技有限公司產品一覽
QSense®耗散型石英晶體微天平(QCM-D)
技術和儀器能夠實時分析分子相互作用和監測表界面質量與結構變化。多種型號、測試模塊和100多種芯片表面供選擇，芯片表面支持定制。
KSV NIMA LB 膜沉積和表征工具
Langmuir 和Langmuir-Blodgett 膜分析儀、布魯斯特角顯微鏡、界面剪切流變儀等系列產品用于在氣液界面、液液界面、氣固界面上有序的單層和多層結構的組裝和表征，使薄膜制造和表征領域的前沿創新成為可能。
Attension®表面張力/接觸角測量儀
能夠為工業研發和學術研究提供精確的表面張力、接觸角、表面自由能等測量。
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